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氧化诱导测试仪采用全新的炉体结构

发布时间:2022-04-02      点击次数:579
   氧化诱导测试仪采用差热分析法或差示扫描量热法,可以简单快速测量电缆绝缘和护套材料的氧化诱导期,因此应用十分普遍。目前国内外都有相应标准试验方法加以规定。但在实际测试中,OIT的数据结果重复性不好。同一种材料测得的数据分散性往往超出了正常的试验允许误差范围。因此测试条件的正确选择非常重要。
  
  主要特点:
  1、全新的炉体结构,更好的解析度和分辨率以及更好的基线稳定性;
  2、数字式气体质量流量计,精确控制吹扫气体流量,数据直接记录在数据库中;
  3、仪器可采用双向控制(主机控制、软件控制),界面友好,操作简便;
  
  下面我们一起去看看,氧化诱导测试仪的测试条件选择与确定,主要有以下3点:
  1、样品因素
  样品的主要影响因素在于抗氧剂在树脂中的分散程度不均匀而造成OIT的数值分散性,有数据表明,在一般的材料体系中,OIT的偏差为±2、6min甚至于更大。因此,在其他因素均已严格控制的理想情况下,电缆材料的OIT仍有一定的数据分散性,其分散范围与抗氧剂的分散程度均匀有关。除此之外,样品的质量大小对OIT的影响可忽略。
  
  2、操作因素
  温度控制是在其他测试条件相同的情况下,改变温度所测得的PC的氧化诱导期。随着温度的升高,氧化诱导期迅速减小,由此可见准确的温度控制对于氧化诱导期的测量非常重要。
  
  3、仪器因素
  用于无机和非金属材料分析,此时气体能直接从试样旁流过,较好地实现了气体氛围的转换。而采用平顶石英罩管时,由于气体的进出口都在样品杆下方,位于样品杆上方试样周围的气体无法迅速彻底置换,从而带来很大的试验误差。
  OIT的测量是指样品在某一固定温度下,从接触氧气的一瞬间开始计时,至材料发生氧化反应大量放热所经历的时间长短。在炉体的冷却水或进出水口方向接错,都会使得冷端温度高于补偿电路中铜电阻的温度(室温),从而影响温度的准确测量,直接导致试验误差。
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